Os dieléctricos de alta permissividade e os substratos adequados são estudos intensivos na perspectiva da sua utilização na concepção das LSV. Um novo material dieléctrico misto de porta de alta densidade, ou seja, óxido de tântalo dopado com zircónio (Zr-doped TaOx) e óxido de tântalo dopado com háfnio (Hf-doped TaOx) foi estudado em profundidade para futuras aplicações MOSFET. Deposição de novo dieléctrico de porta de alta k através da mistura de Ta2O5 com ZrO2 e HfO2 utilizando a técnica de co-projecção, para alcançar os requisitos de estabilidade termodinâmica, uma gama elevada de temperatura de transição amorfo a cristalina, uma grande abertura de banda eléctrica, e uma grande barreira de banda de energia com Si para a era ULSI. Foram realizados estudos extensivos sobre o processo de fabrico e características do dispositivo. Assim, este livro é útil para que os leitores conheçam alguma edição significativa sobre materiais dieléctricos mistos de porta de alta k para dispositivos de alta frequência.